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用于在集成电路内制造JFET晶体管的方法及对应的集成电路

摘要

本公开涉及用于在集成电路内制造JFET晶体管的方法及对应的集成电路。根据本发明的用于制造BiCMOS类型的集成电路(CI)的方法包括制造至少一个垂直结场效应晶体管(T1),其包括形成具有通过光刻控制的有源表面(D)的临界尺寸的沟道区域(ZC)。

著录项

  • 公开/公告号CN106898576B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-06-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 意法半导体(克洛尔2)公司;

    申请/专利号CN201610324289.1

  • 发明设计人 J·希门尼斯;

    申请日2016-05-16

  • 分类号H01L21/8234(20060101);H01L29/772(20060101);H01L29/06(20060101);H01L27/06(20060101);

  • 代理机构11256 北京市金杜律师事务所;

  • 代理人王茂华;张昊

  • 地址 法国克洛尔

  • 入库时间 2022-08-23 12:03:28

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