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Overlay copy technique to provide high-contrast electron micrographs for automatic metallographic analysis

机译：叠加复制技术，为自动金相分析提供高对比度电子显微照片

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Overlay copy technique to provide high-contrast electron micrographs for automatically determining quantitative microstructure of multiphase specimens

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作者
Cremens, W. S.; Norris, L. F.; Weeton, J. W.;
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作者单位

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年度 1966
页码 1-12
总页数 12
原文格式 PDF
正文语种 eng
中图分类工业技术;
关键词
METALLOGRAPHY; MICROANALYSIS; MICROSTRUCTURE; NICKEL; PHOTOMICROGRAPHY; SCANNERS; MICROANALYSIS; MICROSTRUCTURE; NICKEL; SCANNING DEVICE;

机译：金相;微量分析;组织;镍;显微摄影; sCaNNERs;微量分析;组织;镍;扫描设备;

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