Physical Radiation Effects; Radiation Doses; Ionizing Radiations; Space Flight; Integrated Circuits; Semiconductor Devices;
机译:MOS和低剂量率敏感的线性双极型器件中的总电离剂量效应
机译:针对空间电离辐射环境中的双极线性电路和设备的拟议硬度保证测试方法
机译:总电离剂量辐射对先进的体CMOS技术器件中NMOS寄生晶体管的影响
机译:双极和BiCMOS器件中的总电离剂量效应
机译:SiGe PMOS器件上的总电离剂量辐射效应和负偏置温度不稳定性
机译:γ射线总电离剂量(TID)对Ag / AlO转换行为的影响X/ Pt RRAM设备
机译:在自然空间辐射环境中,总电离剂量对mOs和双极器件的影响
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