Semiconductor Materials; Transmission Electron Microscopy; Ion Beams; Polishing; Sample Preparation;
机译:结合FIB研磨和常规氩离子研磨技术以制备高质量的特定于现场的TEM样品,以进行铁水中氧气的定量EELS分析
机译:聚焦离子束和截面TEM技术表征Al-Si合金的亚表面滑动磨损损伤
机译:纳米压痕和截面TEM技术磨蚀的Fe-0.4 wt%C马氏体钢的表面特征
机译:Ⅲ-Ⅴ族半导体截面TEM样品的大面积制备
机译:使用异位和原位TEM技术研究超细晶粒金属膜的力学行为和变形机理
机译:薄层色谱法和不同的微薄层色谱技术在曼陀罗Inoxia造纸厂中对碱生物碱及其衍生物混合物分析中的比较。提取
机译:通过暗全全息,纳米辐射,几何相分析和预防电子衍射变形映射。不同技术的比较
机译:使用直接和间接转移技术通过透射电子显微镜(TEm)测定空气中石棉水平的比较