首页> 美国政府科技报告 >Measurement of CP Observable in B(sup plus or minus) D(sup o)(sub cp)K(sup plus or minus) Decays.
【24h】

Measurement of CP Observable in B(sup plus or minus) D(sup o)(sub cp)K(sup plus or minus) Decays.

机译:在B(sup加或减)D(sup o)(sub cp)K(sup加或减)衰变中测量Cp可观察量。

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This document presents a summary on the excellent luminosity and machine conditions provided by the PEP-II colleagues and the substantial dedicated effort from the computing organizations that support BaBar.

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