Light scattering; Thin films; Surface roughness; Dielectric films; Backscattering; Grazing angles; Reprints; Measurement; Coherence; Substrates; Electromagnetic wave propagation; Far field; Laser beams; Correlation; Mathematical prediction; Aluminum; Perturbation theory; Reflectometers;
机译:X射线光电子谱对Si的HFO 2薄膜研究,Rutherford反向散射,放牧入射X射线衍射和可变角度光谱椭圆形测定法
机译:自组装纳米结构膜在任意入射角下的二维衍射图的模拟和解释:从掠入射(临界角以上)到垂直于基板的透射率
机译:浸涂和自组装形成的导电金基底上介孔二氧化硅膜的有序和取向控制:入射角的掠角小角X射线散射和场发射扫描电子显微镜研究
机译:表面积分方程和FDTD方法在介电粗糙表面近掠角下的反向散射建模的比较
机译:离子辐照引起介电基片上金属膜的粗糙化和平滑化。
机译:基于具有拟反相关界面的波纹金属薄膜的表面势垒异质结构中表面等离子-极化子的介电环境敏感性增强
机译:图7:(a)使用(t-bu3p)2pd(“pt-fu”)和蛋白酶pd(“pt-ceppsi”)催化剂制备的聚噻吩膜的反射率UV-is。 FU催化剂产生厚,致密地接枝膜。 (b)PT-FU和PT-PEPPSI薄膜的放射伸角IR光谱揭示了多噻吩的独特外平面C-H弯曲模式。