Statistical processes; Electronic equipment; Statistical data; Experimental data; Germanium; Life expectancy; Statistical tests; Transistors; Weibull processes; Parameter estimation;
机译:带有Weibull创新的一阶分叉自回归过程的参数估计
机译:估计小样本中三参数Weibull分布的磨损失效周期的形状参数
机译:三参数威布尔分布情况下的磨损失效时段阈值参数估计
机译:具有时变尺度参数的Weibull模型用于可修复系统故障过程建模
机译:监控Weibull工艺参数的变化
机译:分数Lévy过程驱动的Ornstein–Uhlenbeck过程的参数估计
机译:Weibull过程参数估计的后验分布与损失函数