Metal oxide semiconductors; Capacitors; Radiation effects; Electron microscopy; Electron irradiation; Semiconductor devices; Silicon; Silicon dioxide; Interfaces; Band theory of solids; Annealing; Hardness; Quality control; Integrated circuits; Microcircuits; Electrical properties; Reliability(Electronics); Scanning electron microscopy; Cobalt 60;
机译:用扫描迁移率粒度仪,透射电子显微镜和扫描透射X射线显微镜研究了烟灰团聚体的脉冲激光辐照形成的颗粒
机译:用扫描迁移率粒度仪,透射电子显微镜和扫描透射X射线显微镜研究了烟灰团聚体的脉冲激光辐照形成的颗粒
机译:扫描电子显微镜和共聚焦激光扫描显微镜对CO_2激光辐照牙齿的非接触表面形态分析
机译:晶粒尺寸对电子辐照陶瓷中电荷陷阱的影响;使用扫描电子显微镜中的特殊装置进行稳定性和放电研究
机译:在扫描透射电子显微镜中用电子能量损失光谱法表征多相聚合物形态。
机译:808nm二极管激光辐照对涂片层去除后根管壁的影响:扫描电子显微镜研究
机译:利用扫描迁移率粒子分析仪,透射电子显微镜和近边缘X射线吸收精细结构研究了脉冲激光照射烟灰的颗粒。