Silicon; Platinum; Electrical properties; Annealing; Diodes; Breakdown(Electronic threshold); High voltage; Electric current; Leakage(Electrical); Low rate; Reversible; Layers; Metallizing; Interfaces; Thickness; Reprints; Schottky barrier devices; Electric contacts;
机译:4H-SiC上的肖特基势垒的电学特性:势垒高度不均匀性的影响
机译:室温RE / N型SI肖特基屏障二极管电特性和界面状态密度分析
机译:增长取向的影响和N在界面状态下的界面和Cu / Gaasn肖特基屏障二极管的电气特性
机译:PTSI-SI肖特基屏障与硼掺杂纳米组的光电特性
机译:理解金属/半导体肖特基接触的电性能:块体和纳米级结构中势垒不均匀性和几何形状的影响。
机译:碳纳米管悬浮肖特基势垒晶体管中Van Hove奇异性和电特性的温度依赖性的观察
机译:界面结构对-al2O3(0001)/ Ni(111)界面肖特基势垒高度的影响:第一性原理研究
机译:界面结构对ptsi-si肖特基势垒接触电性能的影响