Computer aided design; Digital systems; Logic circuits; Algorithms; Availability; Circuits; Computer programming; Environments; Faults; Low costs; Sites; Test and evaluation; Circuit testers; Parallel processing; Multiprocessors;
机译:使用单通量量子数字电路的3位并行生成4位M序列
机译:大型组合电路的紧凑型IDDQ测试装置的并行生成系统
机译:基于混合策略进化法的数字电路延迟故障低功耗测试模式生成。
机译:数字电路测试生成的并行遗传算法
机译:混合模拟数字电路测试生成的可测试性分析和测试设计。
机译:使用下一代测序技术对外胚层发育不良患者的几个基因进行并行测试(面板测试)
机译:时序电路的便携式并行测试生成