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Scanning Tunneling Microscopy, Atomic Force Microscopy, and Related Techniques.(Reannouncement with New Availability Information)

机译:扫描隧道显微镜,原子力显微镜和相关技术。(重新公布新的可用性信息)

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摘要

This manuscript reviews the literature concerning STM, AFM, and other scanned-probe microscopies from January 1 through December 15, 1991.

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