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【24h】

Structure at the crack tip in GaAs

机译:GaAs裂纹尖端的结构

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摘要

Cracks induced by low-load indentation of a GaAs single crystal have been investigated by high-resolution electron microscopy. The observations reveal dislocation generation, lattice distortion, and a transformation from a crystalline to a disordered structure, leading to the occurrence of an amorphous band in front of the crack tip.
机译:通过高分辨率电子显微镜研究了由GaAs单晶的低负荷压痕引起的裂纹。这些观察结果揭示了位错的产生,晶格畸变以及从晶体到无序结构的转变,从而导致在裂纹尖端的前面出现非晶带。

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