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ウェハレベルチップサイズパッケージ(W-CSP)におけるインダクタ内蔵技術の開発

机译:晶圆级芯片尺寸封装(W-CSP)中电感器内置技术的开发

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摘要

携帯機器の小型化·高機能化が進み,さらにコンテンツの容量も増加している。 この市場ニーズに応えるための実装技術からのアプローチとして,1つのパッケージに複数の受動部品,LSIチップを搭載するシステムインパッケージ(SiP)が注目されている。 なかでも,高周波機器用途には,ウェハレベルチップサイズパッケージ(以下W-CSP と略す)にインダクタを内蔵した超小型かつ高機能のLSI パッケージの開発が必要になる。 高周波機器用途のインダクタをLSI内のアルミニウム配線やモジュール基板上のチップ部品で形成する場合,アルミニウム配線ではQ値は通常10以下であり,高Q値の確保が難しい。 また,チッブ部品点数の増加により小型化が難しいことなどの問題がある。 今回,W-CSP再配線の微細化により,小型·高性能のインダクタ形成を実現し,その高周波特性を検証した。
机译:便携式设备变得越来越小,越来越复杂,内容的容量也在增加。作为一种从安装技术来满足这一市场需求的方法,一种将多个无源组件和LSI芯片安装在一个封装中的系统级封装(SiP)引起了人们的关注。特别地,对于高频设备应用,有必要开发一种超紧凑,高性能的LSI封装,该封装在晶片级芯片尺寸的封装中集成了电感器(以下简称W-CSP)。当由LSI中的铝布线或模块基板上的芯片部件形成用于高频设备的电感器时,铝布线的Q值通常为10以下,并且难以确保高Q值。另外,存在由于芯片部件的数量增加而难以小型化的问题。这次,我们通过最小化W-CSP的重新布线实现了紧凑而高性能的电感器的形成,并验证了其高频特性。

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