Atomic force microscope for direct comparison measurement of step height and crystalline lattice spacing (vol 10, pg 380, 1999)

Fujii T.; Imabori K.; Kawakatsu H.; Watanabe S.; Bleuler H.

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Atomic force microscope for direct comparison measurement of step height and crystalline lattice spacing (vol 10, pg 380, 1999)

机译：原子力显微镜，用于直接比较测量台阶高度和晶格间距（第10卷，第380页，1999年）

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来源
《Nanotechnology》 |2000年第1期|共1页
作者
Fujii T.; Imabori K.; Kawakatsu H.; Watanabe S.; Bleuler H.;
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原文格式 PDF
正文语种 eng
中图分类一般工业技术;
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