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机译:用原子力显微镜校准台阶高度和粗糙度测量值
Metrological atomic force microscope; Lateral resolution; Interference microscope;
机译:用原子力显微镜校准台阶高度和粗糙度测量值
机译:原子力显微镜,用于直接比较测量台阶高度和晶格间距(第10卷,第380页,1999年)
机译:原子力显微镜可直接比较测量台阶高度和晶格间距
机译:使用原子力显微镜进行可追踪的台阶高度和粗糙度测量
机译:用硅原子台阶工件校准原子力显微镜。
机译:使用原子力显微镜对太阳能电池行业进行原位粗糙度测量
机译:可追踪原子力显微镜,用于表面粗糙度校准子纳米级顺序