机译:使用电扫描探针显微镜对半导体器件中载流子浓度进行实验量化的分析程序
scanning probe microscopy (SPM); scanning capacitance microscopy (SCM); carrier concentration; semiconductor device; metal-oxide-semiconductor field-effect transistor (MOSFET);
机译:使用电扫描探针显微镜对半导体器件中载流子浓度进行实验量化的分析程序
机译:扫描开尔文探针显微镜定量ZnO薄膜中的载流子浓度
机译:扫描开尔文探针显微镜定量ZnO薄膜中的载流子浓度
机译:使用微波阻抗显微镜延伸半导体器件的电扫描探针显微镜测量
机译:微观研究有机半导体中电荷的命运:扫描开尔文探针测量p型和n型器件中的电荷俘获,传输和电场
机译:扫描开尔文探针显微镜定量ZnO薄膜中的载流子浓度
机译:电动SPM的工业标准化和半导体器件中载流子浓度的定量