机译:使用电SPM的半导体器件中载流子浓度的工业标准化和量化
机译:使用电扫描探针显微镜对半导体器件中载流子浓度进行实验量化的分析程序
机译:使用非接触式激光光载波辐射法测量偏置金属氧化物半导体n-Si器件中的载流子密度波传输和局部内部电场
机译:基于p-n结的半导体器件建模中多数载流子浓度持久性假设的适应性
机译:模型有机电子器件中半导体-半导体和半导体-介电界面的ATR-FTIR研究
机译:压电半导体和压电磁性复合杆中的磁诱导的载体分布
机译:基于BaTiO3的电学性质 - mFIs异质结构:半导体沟道载流子浓度的作用
机译:半导体中过量载流子浓度衰减的理论