机译:STEM / HAADF定量薄膜X射线微分析:精确度和准确性确定的统计分析
analytical electron microscopy; Monte Carlo simulation; statistical analysis; silicon-germanium alloys;
机译:STEM / HAADF定量薄膜X射线微分析:精确度和准确性确定的统计分析
机译:用于X射线光学器件的非周期性W / B4C多层系统:通过HAADF-STEM和X射线反射率定量确定层厚度
机译:透射电子显微镜中超薄窗型能量色散X射线光谱法对陶瓷中阳离子组成的薄膜定量微分析
机译:X射线微分析,HAADF,茎和EFTEM在纳米医生中的应用
机译:冶金系统的X射线吸收系数和微观分析,包括难熔的金属间质化合物
机译:通过扫描电子显微镜/硅漂移检测器能量色散X射线光谱法(SEM / SDD-EDS)进行高精度和高精度的元素微分析
机译:通过扫描电子显微镜/硅漂移检测器能量色散X射线光谱法(SEM / SDD-EDS)进行高精度和高精度的元素微分析
机译:国家标准与技术研究院研究期刊,2002年11月 - 12月。第107卷,第6期。特刊:定量电子束X射线微量分析的准确性障碍