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一种基于透射电镜HAADF图像的材料结构定量化分析方法

摘要

本发明提供一种基于透射电镜HAADF图像的材料结构定量化分析方法。通过图像处理技术获取透射电镜高分辨图像中各原子点阵的坐标位置,得到各原子的积分强度及其邻域归一化强度,并充分结合HAADF成像原理与强度信息的关系,而在HAADF图像定性研究的基础上获得一些定量化的信息。通过原子点阵坐标,归一化强度等数据可分析出多种的定量化结构信息。在本方法中,原子点阵坐标的确定与强度积分科学合理;而邻域归一化强度的应用避免了材料(尤其是多晶纳米材料)中存在的较大范围内的结构波动和缺陷带来的影响;且能快速的对结构信息进行统计分析,避免了人为测量的巨大工作量及误差。该方法具有结果准确、适用范围广、可操作性强等特点。

著录项

  • 公开/公告号CN105527461B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-04-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京工业大学;

    申请/专利号CN201610029398.0

  • 申请日2016-01-16

  • 分类号

  • 代理机构北京思海天达知识产权代理有限公司;

  • 代理人刘萍

  • 地址 100124 北京市朝阳区平乐园100号

  • 入库时间 2022-08-23 10:10:44

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-04-27

    授权

    授权

  • 2016-05-25

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01Q30/04 申请日:20160116

    实质审查的生效

  • 2016-04-27

    公开

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