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机译:获得氮参考标准进行X射线定量微量分析的方法
公开/公告号PL339584A1
专利类型
公开/公告日2001-10-22
原文格式PDF
申请/专利权人 POLITECHNIKA WARSZAWSKA;
申请/专利号PL20000339584
发明设计人 PRECHT WITOLD;SIKORSKI KRZYSZTOF;WIERZCHON TADEUSZ;
申请日2000-04-11
分类号G01N31/00;
国家 PL
入库时间 2022-08-22 01:24:05
机译: 用于X射线定量微量分析的氮参考标准品的获得方法
机译: 基于一组合金标准样品和数学调整模型的金属合金定量X射线微分析的方法。
机译: 粉末X射线衍射法定量分析用内标物及定量分析方法