机译:用于X射线光学器件的非周期性W / B4C多层系统:通过HAADF-STEM和X射线反射率定量确定层厚度
Aperiodic multilayer systems; X-ray optical elements; TEM; High-angle annular dark-field scanning; transmission electron microscopy; (HAADF-STEM); X-ray reflectivity measurements; Geometric phase analysis (GPA);
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