首页> 中国专利> X射线分析引擎和分析仪的支撑结构及高度对准的单色X射线光学器件

X射线分析引擎和分析仪的支撑结构及高度对准的单色X射线光学器件

摘要

本发明公开了一种形成单色x射线光学器件的方法,该方法包括对单层材料加热,并且使该单层材料进行弯曲同时被加热,以便该单层材料在冷却之后保持它的弯曲形状。本发明还公开了一种用于形成X射线分析仪的方法,其包括:提供X射线激励路径,用于将X射线从X射线源引导向样品;提供X射线探测路径,用于从样品处收集荧光;其中,所述X射线激励路径和/或X射线探测路径包括至少一个单色X射线光学器件;以及形成至少一个单色X射线光学器件,并且包括使该单层材料进行弯曲同时被加热,以使得该单层材料在冷却之后保持它的弯曲形状。

著录项

  • 公开/公告号CN107731337B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-11-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 X射线光学系统公司;

    申请/专利号CN201710929874.9

  • 申请日2012-10-25

  • 分类号

  • 代理机构永新专利商标代理有限公司;

  • 代理人张文达

  • 地址 美国纽约州

  • 入库时间 2022-08-23 10:55:13

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-11-19

    授权

    授权

  • 2018-03-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):G21K1/06 申请日:20121025

    实质审查的生效

  • 2018-03-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):G21K 1/06 申请日:20121025

    实质审查的生效

  • 2018-02-23

    公开

    公开

  • 2018-02-23

    公开

    公开

  • 2018-02-23

    公开

    公开

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