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机译:纤锌矿型III-氮化物三元合金中低损耗电子能量损失谱的密度泛函理论建模
EELS; III-V semiconductors; Vegard's law; band gap; Plasmon;
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机译:在高分辨率透射电子显微镜中使用价电子能量损失谱和从头算随时间变化的密度泛函理论证明单斜氧化ha的各向异性介电性质
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