机译:在高分辨率透射电子显微镜中使用价电子能量损失谱和从头算随时间变化的密度泛函理论证明单斜氧化ha的各向异性介电性质
University Grenoble Alpes, F-38000 Grenoble, France;
机译:在高分辨率透射电子显微镜中使用价电子能量损失谱和从头算随时间变化的密度泛函理论证明单斜氧化ha的各向异性介电性质
机译:时变密度泛函理论解释单斜氧化氢价电子能谱
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机译:用价电子能损谱和能谱透射电镜原位测定亚稳和平衡沉淀的物理性质
机译:原始陨石中细颗粒材料的透射电子显微镜和电子能量损失谱。
机译:透射电子显微镜/电子能量损失谱测量和镍晶界处局部磁矩的从头计算
机译:高分辨率TEM价电子能量损失谱和从头算随时间变化的密度泛函理论证明单斜氧化ha的各向异性介电性能。
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