机译:通过无空隙焊接工艺提高焊点的可靠性
insulated gate bipolar transistor (IGBT) modules; nickel metallization; heat loss; solder joint; voids; surface oxides of plated nickel film; silver film; surface cleaning; microstructures; fatigue life times;
机译:通过无空隙焊接工艺提高焊点的可靠性
机译:回流焊接工艺冷却阶段中焊点排列方式对BGA无铅可靠性的影响
机译:在各种锡铅焊接工艺条件下组装的无铅区域阵列封装的焊点特性和可靠性
机译:减少高可靠性铅免焊接接头减少空隙的过程考虑因素
机译:电迁移增强了无铅焊点中铜-锡金属间化合物的动力学,并使用分步和闪光压印光刻技术进行了铜低k双大马士革工艺。
机译:随机空隙的产生以及热冲击载荷对发光二极管倒装芯片焊点机械可靠性的影响
机译:空隙对无铅焊点热机械可靠性的影响