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【24h】

Hydrogenated Amorphous Silicon Thin-Film Transistors on Freestanding Graphite Foil

机译:独立式石墨箔上的氢化非晶硅薄膜晶体管

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摘要

We have studied the fabrication of hydrogenated amorphous silicon thin-film transistors (a-Si:H TFTs) on 125 mu m thick graphite foil. The a-Si: H TFT fabricated on polyimide planarized graphite foil exhibited a field-effect mobility of 0.32 cm(2)/V s, a threshold voltage of 2.35 V, and subthreshold slope of 1.23 V/decade. The performance of the TFT on graphite foil is stable until bending it down to the radius of 5 mm, corresponding to the strain of 2.4%. The TFT on curved graphite foil can be freestanding on the table.
机译:我们已经研究了在125微米厚的石墨箔上制造氢化非晶硅薄膜晶体管(a-Si:H TFT)的方法。在聚酰亚胺平面化石墨箔上制造的a-Si:H TFT的场效应迁移率为0.32 cm(2)/ V s,阈值电压为2.35 V,亚阈值斜率为1.23 V /十倍。 TFT在石墨箔上的性能稳定,直到将其向下弯曲至5 mm的半径(对应于2.4%的应变)为止。弯曲石墨箔上的TFT可以在桌子上独立放置。

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