机译:多波长微拉曼光谱表征Si上的异质外延Ge膜
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机译:基于多色度仪的多波长显微拉曼光谱非接触在线监测Si(100)上外延Si_(1-x)Ge_x层的Ge含量和厚度变化
机译:使用多波长高分辨率微拉曼光谱技术进行在线Si1-xGex外延过程监控和诊断
机译:多波长微喇曼光谱法检测Ge / Si中Ge和Si的混合
机译:使用微拉曼光谱和光致发光测量研究铁电薄膜。
机译:结合使用实时/ Orbitrap质谱法和显微拉曼光谱法进行直接分析对真实爆炸物进行全面表征
机译:多波长微拉曼光谱非接触监测超薄单层和双层Si1-xGex外延膜中Ge含量和B浓度