机译:使用多波长微拉曼光谱法的超薄单层和双层Si1-XGEx外延薄膜GE含量和B浓度的非接触式监测
机译:基于多色度仪的多波长显微拉曼光谱非接触在线监测Si(100)上外延Si_(1-x)Ge_x层的Ge含量和厚度变化
机译:多波长微拉曼光谱表征Si上的异质外延Ge膜
机译:使用多波长微拉曼光谱检测GE和Si在GE / Si中的晶体混合
机译:硅晶片中的应力测定和石墨增强环氧树脂中压缩破坏的微力学研究(使用拉曼光谱法)。
机译:共聚焦显微拉曼光谱检测包膜病毒颗粒受体诱导的糖蛋白构象变化
机译:多波长微拉曼光谱非接触监测超薄单层和双层Si1-xGex外延膜中Ge含量和B浓度
机译:用微拉曼光谱法检测siC mEms中的残余应力