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机译:使用多波长微拉曼光谱法的超薄单层和双层Si1-XGEx外延薄膜GE含量和B浓度的非接触式监测
机译:多波长微拉曼光谱法非接触在线测量Si(100)上超薄掺硼外延Si_1-xGe_x层中的硼浓度
机译:基于多色度仪的多波长显微拉曼光谱非接触在线监测Si(100)上外延Si_(1-x)Ge_x层的Ge含量和厚度变化
机译:使用多波长高分辨率微拉曼光谱技术进行在线Si1-xGex外延过程监控和诊断
机译:双层多孔硅衬底上单晶硅薄膜的外延生长和转移
机译:新型超薄薄膜和多层的铁磁性:使用磁光克尔效应和旋敏电子谱的Ru / C(0001)和Fe / Mn / Fe / Pd(100)的研究
机译:通过采用光学光谱分程利用基于INP的量子级联激光器的InGaAs层的非接触式测量
机译:多波长微拉曼光谱非接触监测超薄单层和双层Si1-xGex外延膜中Ge含量和B浓度
机译:超薄Co / Ni多层膜的垂直磁各向异性研究铁磁共振和磁X射线显微光谱。