Detection; Raman spectroscopy; Residual stress; Silicon carbides; Microelectromechanical systems; Crystal structure; Excitation; Signal to noise ratio; Thin films; Theses; Chemical vapor deposition; Substrates; Absorption; Raman spectra;
机译:紫外微拉曼光谱法监测氮化铝MEMS的局部残余应力
机译:使用显微拉曼光谱技术以高灵敏度在结构复杂的MEMS中进行应力成像
机译:使用MEMS光学斩波器的单晶硅谐振器的时间分辨微拉曼应力谱
机译:微拉曼光谱法的SiC纤维/ YSZ复合热阻挡涂层的残余应力测量
机译:使用拉曼光谱法表征微机电系统(MEMS)装置中的残余应力。
机译:4H-SiC衬底上4H-SiC圆形膜的杨氏模量和残余应力的研究
机译:微拉曼光谱法纳米晶Cr2O3涂层局部残余应力研究