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高精度最高速の検査性能を実現した三次元二次元ウエーハバンプ検査装置:WVI-6000α

机译:三维二维晶圆凸块检测装置,实现高精度最高检测性能:WVI-6000α

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摘要

技術開発速度の速いウエーハ分野での適用を目的としたウエーハバンプ検査装置を開発した。 本装置は、Φ300mmウエーハを高精度で1時間に16枚という速度で検査することができる。その製品の概要について紹介する。
机译:我们开发了一种用于高科技发展速度领域的晶圆凸块检测装置。 该装置可以以高精度和1小时以16片的速度检查φ300mm晶片。 介绍产品的轮廓。

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