3次元NAND型フラッシュメモリにおけるニューラルネットワークを用いた寿命予測と高信頼化手法

摘要

NAND型フラッシュメモリには、データを保持できる時間や読み出し回数といったメモリの寿命が存在する。そこで、ニューラルネットワークを用いて寿命を予測する手法を提案した。また、メモリ内で発生したエラーを訂正する手法を提案した。メモリのエラー特性をニューラルネットワークに学習させることで、メモリ内に発生したエラーの検出が可能になる。検出したエラーを訂正することによって、フラッシュメモリの高信頼化を実現した。以上の提案により、メモリの寿命を出荷前に予測することが可能になる。予測した寿命に基づいて選別を行い、長いデータ保持時間が求められるアーカイブなどの市場や頻繁に読み出しが行われる市場のそれぞれに、適切なチップを出荷することが実現できる。