...
首页> 外文期刊>Физика и техника полупроводников >Дрейфовая скорость электронов в квантовых ямахселективно легированных гетероструктур In_(0.5)Ga_(0.5)As/Al_xIn_(1-x)Asи In_(0.2)Ga_0.8)As/Al_xGa_(1-x)As в сильных электрических полях
【24h】

Дрейфовая скорость электронов в квантовых ямахселективно легированных гетероструктур In_(0.5)Ga_(0.5)As/Al_xIn_(1-x)Asи In_(0.2)Ga_0.8)As/Al_xGa_(1-x)As в сильных электрических полях

机译:电子在量子漂移速度yamahselektivno掺杂异质结构IN_(0.5)Ga_(0.5)为/ Al_xIn_(1-X)阿西IN_(0.2)Ga_0.8)由于/ Al_xGa_(1-X)作为强电场

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

Вычислена (методом Монте-Карло) полевая зависимость дрейфовой скорости электронов в квантовыхямах селективно легированных гетероструктур In_(0.5)Ga_(0.5)As/Al_xIn_(1-x)As и In_(0.2)Ga_(0.8)As/Al_xGa_(1-x)As. Исследо-вано влияние изменения мольной доли Al в составе барьеров квантовой ямы Al_xGa_(1-x)As и Al_xIn_(1-x)As на подвижность и дрейфовую скорость электронов в сильных электрических полях. Показано, что подвижность электронов растет с уменьшением доли Al х в составе барьеров. В квантовых ямах In_(0.5)Ga_(0.5)As/ In_(0.8)Al_(0.2)As максимальное значение подвижности превышает подвижность в объемном материале в 3 раза. Повышение доли Al х в барьере приводит к росту порогового поля E_(th), междолинного переброса(эффект Ганна). В гетероструктурах In_(0.5)Ga_(0.5)As/Al_(0.5)In_(0.5)As пороговое поле составляет E_t = 16 кВ/см, в In_(0.2)Ga_(0.8)As/Al_(0.3)Ga_(0.7)As — E_(th) = 10 кВ/см. В гетероструктурах с наивысшей подвижностью электроновE_(th) = 2—ЗкВ/см, что меньше E_(th) = 4кВ/см в объемном InGaAs.
机译:计算(通过蒙特卡罗)依赖于量子中的电子漂移速度在量子中选择性地掺杂异质结构IN_(0.5)GA_(0.5)AS / AL_XIN_(1-x)AS和IN_(0.2)GA_(0.8)AS / AL_XGA_(1- x)如。 Al在量子阱Al_xga_(1-x)和Al_xin_(1-x)屏障组合物中的摩尔分数的影响,如强电场中电子的迁移率和漂移速度。结果表明,电子的迁移性在屏障中的Al X的份额下降。在量子凹坑IN_(0.5)GA_(0.5)AS / IN_(0.8)AL_(0.2),移动性的最大值超过体积材料中的移动性3次。屏障中Al X的份额的增加导致阈值场E_(TH)的增加,interdoline横截面(甘露群的效果)。 IN_(0.5)GA_(0.5)AS / AL_(0.5)IN_(0.5),阈值字段是E_T = 16 kV / cm,IN_(0.2)GA_(0.8)AS / AL_(0.3)GA_(0.7) AS - E_(TH)= 10 kV / cm。在具有最高迁移率的异质结构= 2-cm / cm的异质结构= 2-cm / cm,其在卷IngaAs中较小的e_(th)= 4kv / cm。

著录项

  • 来源
  • 作者单位

    Институт физики полупроводников Центра физических и технологических наук 01108 Вильнюс Литва;

    Институт физики полупроводников Центра физических и технологических наук 01108 Вильнюс Литва;

    Институт физики полупроводников Центра физических и технологических наук 01108 Вильнюс Литва;

    Институт физики полупроводников Центра физических и технологических наук 01108 Вильнюс Литва;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 rus
  • 中图分类 半导体物理学;
  • 关键词

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号