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Copper Doping in II-VI Semiconductor Nanocrystals: Single-Particle Fluorescence Study

机译:II-VI半导体纳米晶体中的铜掺杂:单粒子荧光研究

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摘要

Copper doping in II-VI semiconductor nanocrystals (NCs) has sparked enormous debate regarding the oxidation state of Cu ions and their hugely differing consequences in optoelectronic applications. The identity of a magnetically active Cu2+ ion or a magnetically inactive d(10) Cu+ ion has generally been probed using optical techniques, and confusion arises from the spatial clutter that is part of the technique. One major probe that could declutter the data obtained from ensemble emission is single-particle fluorescence spectroscopy. In this work, using this very technique along with X-ray absorption spectroscopy probing the local environment of dopant ions, we study Cu-doped II-VI semiconductor NCs to find conclusive evidence on the oxidation state of Cu dopants and hence the mechanism of their emission. Detailed analysis of blinking properties has been used to study the single-particle nature of the NCs.
机译:II-VI半导体纳米晶体(NCS)中的铜掺杂引发了关于Cu离子的氧化状态的巨大争论及其在光电应用中的巨大不同的后果。 通常使用光学技术探测磁性活性Cu2 +离子或磁性无效D(10)Cu +离子的同一性,并且来自作为该技术的一部分的空间杂波出现的混乱。 可以整理从集合发射获得的数据的一个主要探针是单粒子荧光光谱。 在这项工作中,使用这种非常技术以及探测掺杂剂离子的局部环境的X射线吸收光谱,我们研究Cu掺杂的II-VI半导体NC,以找到关于Cu掺杂剂的氧化状态的确凿证据,从而找到它们的机制 排放。 眨眼性质的详细分析已用于研究NCS的单粒子性质。

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