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机译:通过高分辨率X射线衍射和取向成像研究对MgO(100)衬底外延Ni-Mn-Ga膜微观结构演化的新见解
Indian Inst Sci Dept Mat Engn Bangalore Karnataka India;
Indian Inst Sci Ctr Nanosci &
Engn Bangalore Karnataka India;
Indian Inst Sci Dept Mat Engn Bangalore Karnataka India;
Ni-Mn-Ga thin film; magnetron sputtering; epitaxial thin films; high-resolution X-ray diffraction; reciprocal space mapping; precession electron diffraction; magnetic properties;
机译:通过高分辨率X射线衍射和取向成像研究对MgO(100)衬底外延Ni-Mn-Ga膜微观结构演化的新见解
机译:在MgO(100)衬底上外延生长的Ni2MnGa(010)膜的结构,微观结构和磁性研究
机译:在MgO(100)底物上外延生长的Ni2mnga(010)膜上的结构,微观结构和磁性研究
机译:BA {Sub} 0.6SR {Sub} 0.4TiO {Sub} 3薄膜的优选取向生长在Si(100)衬底上具有外延MgO缓冲层的薄膜
机译:银(001)和银(111)上超薄外延铬和氧化铁膜的生长和结构:通过X射线光电子衍射和低能电子衍射完成的综合研究。
机译:通过扫描X射线纳米束显微镜和电子背散射衍射在拓扑绝缘体Bi2Te3和Bi2Se3外延薄膜中进行双畴成像
机译:通过脉冲激光沉积在(La,Sr)CoO 3覆盖的MgO(100)衬底上外延生长的成分增高和降级(Ba,Sr)TiO3薄膜的比较微观结构研究
机译:(001)氧化镁上外延铂薄膜的取向选择和微观结构演变