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机译:用于薄箔厚度测量的新型X射线吸收方法中的二次灭火
JORDAN MALINOWSKI CENTRAL LABORATORY FOR PHOTOGRAPHIC PROCESS BULGARIAN ACADEMY OF SCIENCES ACAD. G. BONCHEV ST. BLOCK 10 SOFIA 1113 BULGARIA;
INSTITUTE OF ELECTROCHEMISTRY AND ENERGY SYSTEMS BULGARIAN ACADEMY OF SCIENCES ACAD. G. BONCHEV ST. BLOCK 10 SOFIA 1113 BULGARIA;
INSTITUTE OF GENERAL AND INORGANIC CHEMISTRY BULGARIAN ACADEMY OF SCIENCES ACAD. G. BONCHEV ST. BLOCK 11 SOFIA 1113 BULGARIA;
XRD; extinction; texture; foil; thickness;
机译:X射线吸收法用于薄箔厚度测量中的二次消光
机译:用于薄箔厚度测量的新型X射线吸收方法中的二次灭火
机译:考虑到二次消光的新型X射线衍射法测量薄纹理膜的厚度
机译:X射线吸收测量薄膜厚度中的二次消光
机译:磁性超薄薄膜中晶格菌株的X射线吸收细结构测量
机译:用于测量无线电保护罩的铅等效铅胶带引线厚度的特征及验证
机译:通过使用激光吸收法,通过使用激光吸收方法对溶液Marangoni冷凝的冷凝水膜厚度的不稳定测量。试验材料的消灭性能研究及测量方法。
机译:用X射线衍射法测量薄膜厚度。