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Fast locking technique for phase locked loop based on phase error cancellation

机译:基于相位误差取消的锁相环快速锁定技术

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摘要

A fast locking technique for phase locked loop (PLL) is presented. In this technique the resistor of the filter is shorted, while the frequency switching occurs. A time to digital converter (TDC) measures the phase error at the phase frequency detector (PFD) output. The output of the TDC is used to control switches in the voltage control oscillator (VCO) to change the frequency in such a way that minimizes the phase error at the PFD output. Minimizing the phase error at the PFD output will create a zero, which stabilizes the PLL. The bandwidth (BW) is expanded by increasing the charge pump (CP) current. Here, the locking time reduces without stability problem. The simulation of proposed PLL in 180 nm CMOS technology shows a reduction of 75.9 ps locking time from 79 mu s in conventional PLLs to 3.1 mu s. (C) 2019 Elsevier GmbH. All rights reserved.
机译:提出了一种用于锁相环(PLL)的快速锁定技术。 在这种技术中,滤波器的电阻短路,而发生频率切换。 数字转换器(TDC)的时间测量相位频率检测器(PFD)输出处的相位误差。 TDC的输出用于控制电压控制振荡器(VCO)中的开关以使频率以最小化PFD输出的相位误差。 最小化PFD输出处的相位误差将产生零,该零点稳定PLL。 通过增加电荷泵(CP)电流来扩展带宽(BW)。 这里,锁定时间在没有稳定性问题的情况下减少。 在180nm CMOS技术中提出的PLL的模拟表明,在传统的PLL中,从79μS锁定时间为75.9ps锁定时间为3.1μs。 (c)2019年Elsevier GmbH。 版权所有。

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