首页> 外文期刊>Cryogenics >Measurement of the low temperature electrical properties of solid tantalum capacitors
【24h】

Measurement of the low temperature electrical properties of solid tantalum capacitors

机译:固态钽电容器低温电性能的测量

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
       

摘要

Highly reproducible capacitance-low temperature and dissipation factor-low temperature curves were obtained for commercial solid tantalum electrolytic capacitors in the range 90-310 K. A description of a design of a cryostat used to test radial wire ended tantalum bead capacitors at low temperatures is given. The tantalum capacitors showed excellent capacitance-temperature linearity between 220 and 310 K for test frequencies of 120 Hz and 1 kHz. Some evidence is given for the presence of dielectric relaxation at approx 210 K.
机译:对于在90-310 K范围内的商用固态钽电解电容器,获得了可重现的电容-低温和耗散因数-低温曲线。用于在低温下测试径向线端钽珠状电容器的低温恒温器的设计说明如下:给定的。对于120 Hz和1 kHz的测试频率,钽电容器在220至310 K之间显示出出色的电容温度线性度。给出了大约210 K时存在介电弛豫的一些证据。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号