机译:使用压电响应扫描力显微镜的铁电PB(Zr,Ti)O {Sub} 3薄膜偏振切换过程的观察
Polarization switching processes; Piezoresponse scanning force microscopy; Ferroelectric thin films;
机译:使用压电响应扫描力显微镜的铁电PB(Zr,Ti)O {Sub} 3薄膜偏振切换过程的观察
机译:压电响应力显微镜研究PbZr_(0.3)Ti_(0.7)O_3外延薄膜中铁电畴的低温动力学
机译:压电响应力显微镜获得的PbZr(1-x)Ti(x)O(3)薄膜中铁电畴的光诱导效应。
机译:用压电响应扫描力显微镜检查外延PB(Zr,Ti)O_3薄膜偏振切换域壁速度和成核速率
机译:高速压电响应力显微镜直接观察铁电薄膜中的极化反转过程
机译:(100)/(001)取向四方外延Pb(Zr0.4Ti0.6)O3薄膜在电场作用下超快90°域转换的原位观察
机译:错误的:通过使用压电响应力显微镜获得的PBZR1X Ti X O3薄膜的铁电域的光诱导效果
机译:用扫描力显微镜研究铁电薄膜偏振保持损耗的纳米尺度