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机译:密封封装GaN HEMTS电源开关中的通道温度测量使用快速静态和瞬态热方法
Natl Chiao Tung Univ Dept Mech Engn 1001 Univ Rd Hsinchu 30010 Taiwan;
Natl Chiao Tung Univ Dept Mech Engn 1001 Univ Rd Hsinchu 30010 Taiwan;
Natl Chiao Tung Univ Dept Mech Engn 1001 Univ Rd Hsinchu 30010 Taiwan;
Junction temperature; Power semiconductor device; Heating curve; Cooling curve; Transient thermal impedance (TTI); Safe operating area (SOA);
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