机译:透过透射电子显微镜图像仿真识别硅中的延长缺陷原子构型
Univ Valladolid ETSI Telecomunicac Dept Elect &
Elect Paseo Belen 15 E-47011 Valladolid Spain;
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Extended defects; crystalline silicon; HRTEM; atomistic simulations;
机译:透过透射电子显微镜图像仿真识别硅中的延长缺陷原子构型
机译:氢等离子体处理的多晶硅中扩展缺陷处氢缺陷形成的透射电镜研究
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机译:透射电子显微镜图像的原子建模与模拟:石墨烯内在缺陷的应用
机译:硅锗/硅异质结构中位错/缺陷相互作用的原位透射电子显微镜研究。
机译:50纳米厚氮化硅膜的原子分辨率扫描透射电子显微镜
机译:原子分辨扫描透射电子的深度学习 显微镜图像:化学识别和跟踪局部变换