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唐春艳; 李方华; 王蓉;
北京凝聚态物理国家实验室,中国科学院物理研究所,北京,100080;
北京科技大学材料物理系,北京,100083;
高分辨电子显微像; 解卷处理; 赝弱相位物体近似像衬理论; 3C-SiC薄膜;
机译:通过反卷积处理从球面像差校正的高分辨率透射电子显微镜图像中恢复3C-SiC / Si(001)中的缺陷结构
机译:高分辨率电子显微镜研究3C-SiC中位错核和孪晶边界的原子构型
机译:电子显微镜和X射线衍射法研究硅上3C-SiC薄膜的形貌和结构
机译:(S6.3-S0193)通过原位高分辨率电子显微镜观察金属/碳原子层带纳米纳固性
机译:固相外延在硅和蓝宝石上的硅的原位高分辨率透射电子显微镜。
机译:使用涂覆有荧光粉的晶体和高密度硅光电倍增管在飞行时间和相互作用深度的正电子发射断层成像检测器中达到200 ps的定时分辨率
机译:硅位错和晶界核心的成像结构和杂质:高分辨率透射电子显微镜和计算机图像模拟研究
机译:3C-SiC在单晶硅上生长外延3C-SiC
机译:在具有400个分辨率的激光打印机中实施200个分辨率的垂直设备和方法
机译:电子显微镜的分辨率评估样品,电子显微镜的分辨率评估方法以及电子显微镜
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