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机译:通过反卷积处理从球面像差校正的高分辨率透射电子显微镜图像中恢复3C-SiC / Si(001)中的缺陷结构
Aberration-corrected high-resolution transmission electron microscopy; Image deconvolution; Stacking fault; Lomer dislocation; Perfect 60 degrees dislocation; 3C-SiC/Si;
机译:通过反卷积处理从球面像差校正的高分辨率透射电子显微镜图像中恢复3C-SiC / Si(001)中的缺陷结构
机译:利用像差校正透射电子显微镜揭示3C-SiC / Si(001)界面的原子排列
机译:利用像差校正透射电子显微镜揭示3C-SiC / Si(001)界面的原子排列
机译:像差校正透射电子显微镜对3C-SiC / Si(001)界面原子结构和堆垛层错的分析
机译:像差校正扫描透射电子显微镜中的三维成像
机译:单数字纳米电子束光刻和像差校正扫描透射电子显微镜
机译:两个光束透射电子显微镜图像对小晶缺陷结构的敏感性/劳伦斯约瑟夫Sykes。