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机译:(S328)通过荧光产生法(2)检查软X射线XAFS的分析深度
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机译:荧光屈服法对软X射线XAFS进行表面分析的可能性-分析深度,自吸收效应及其对应关系
机译:(S047_1)通过荧光产率法在3d过渡金属氧化物中检查XAFS的分析深度
机译:无损表面深度分辨率通过荧光产生化学条件分析XAFS
机译:无损同步辐射X射线荧光分析法测定生物样品中微量元素的研究
机译:适应剂量体积直方图分析检查食管癌放化疗不良事件:X射线与质子比较