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机译:4H,6H和15R SiC中的UD-3缺陷:电子结构和声子耦合-艺术。没有。 115204
Vacancy-related defect; Silicon-carbide; Paramagnetic-resonance; Magnetic-resonance; Radiation defects; Photoluminescence; Identification; Luminescence; Chromium; Iron;
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