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【24h】

1.5ns/2.1nsのランダム読出/書込サイクル時間を達成した不揮発性混載メモリ用1Mb STT-MRAM-6T2MTJセルにバックグラウンド書き込み(BGW)方式を適用

机译:后台写入(BGW)方法应用于非易失性混合内存的1Mb STT-MRAM-6T2MTJ单元,该单元已实现1.5ns / 2.1ns的随机读取/写入循环时间。

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摘要

CMOSラッチと一対のMTJからなる差動対型メモリセルにおいて、CMOSラッチへ書き込んだデータを用いてMTJを自動的に反転するバックグラウンド書き込み(BWG)方式を適用することによって、2.1nsecという高速な書き込みサイクル時間を実現した1Mb STT-MRAMの設計·試作·評価に関する報告であり、本方式の適用により、L3やし2キャッシュ等の高速混載メモリを不揮発性化してコンピュータのローパワー化を図ることが可能となる。
机译:在由CMOS锁存器和一对MTJ组成的差分对型存储单元中,通过应用后台写入(BWG)方法来施加2.1nsec的高速数据,该方法使用写入CMOS锁存器的数据自动反转MTJ。这是有关实现写入周期时间的1Mb STT-MRAM的设计,试生产和评估的报告,通过应用此方法,非易失性混合存储(例如L3 palm 2高速缓存)将变得非易失性,以降低计算机的性能。有可能。

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