組成·空間分布をナノレベルで観察できる走査型透過X線顕微鏡技術

摘要

リコーがカナダのマクスマスター大学の協力を得て確立。 走査型透過X線顕微鏡（STXM）を使って複写機のトナー粒子内に分散する組成の異なる有機微粒子の3次元空間分布観察に成功した。 STMXは有機材料を構成する炭素や窒素，酸素などの軽元素のX線吸収スペクトル（XAS）を観察できるように，放射光光源の低エネルギー領域で波長を変えながら吸収スペクトルを連続的にとれる。