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【24h】

半導体洗浄液中の極微量な金属不純物を検出オプション機能を追加した装置を発売

机译:推出具有可选功能的设备,以检测半导体清洗液中的痕量金属杂质

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摘要

金属自動測定装置開発のフィアモ(東京·渋谷)は半導体洗浄液中の極微量な金属不純物を検出する装置「FIAMO」に3種類のオプション機能を追加し、販売を始めた。複数の薬液槽を同時に測定するなど、洗浄液をきめ細かく監視するようにした。 半導体の不良品発生を抑制して製造歩留まりの向上に役立つという。 12月7日~9日に千葉市で開かれた半導体製造装置·材料の国際展示会(セミコン·ジャパン)に出展した。
机译:开发了自动金属测量装置的FIAMO(东京涩谷)已向设备“ FIAMO”增加了三种可选功能,该设备可检测半导体清洗液中的痕量金属杂质,并已开始销售。密切监视清洗液,例如同时测量多个化学槽。据说,通过抑制有缺陷的半导体产品的出现,有助于提高制造良率。我们参加了12月7日至9日在千叶市举行的国际半导体制造设备和材料展览会(Semicon Japan)。

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