ウルトラナノインデンテーションテスター：温度ドリフトの影響を受けない次世代ナノインデンテーション試験機

摘要

現在，温度ドリフトの影響を避けるために2つの方法が使用されている。1つ目の方法は測定前に温度が安定するまで待つことである。しかし，温度が安定するまでには数時間かかる場合がある。2つ目の方法はインデンテーション時間を短くすることである。しかし，長時間の測定やクリープのために温度ドリフトを完全に取り除くことはできない。