ジャポニカ型栽培イネ（日本晴）の非脱粒性に関与した遺伝子座の推定

摘要

栽培ィネひsativaは約1万年前にアジア の野生イネであるひrufipogonから栽培化さ れたと考えられている。種子脱粒性の喪失は ィネの栽培化過程で選抜された重要な形質の 一つである。種子が脱粒する原因は種子と枝 梗の間に形成される離層である。これまでの 研究から、ジャポニカ栽培型イネ（日本晴） の非脱粒性に関与した主要な量的形質遺伝子 座（QTL)としてsh4、 qSHl、 qSH3の3つが 報告されている。しかし野生イネひ n^pogow W630の遺伝的背景において、これ ら3遺伝子座を栽培ィネ日本晴の対立遺伝 子で置換した染色体断片置換系統 (Introgression Line(IL), IL(1+3+4))を作出した ところ、部分的ながらもなお離層形成が観察 された。さらに、脱粒強度の指標である breaking tensile strength value (BTS w)につレゝ ても、IL(l+3+4)は日本晴と比べて有意に低い 値を示した。以上のことから日本晴の非脱粒 性には、既知の3遺伝子座以外にも他の変異 が関与していること力5'推定された。本研究で は既知の3遺伝子座以外に日本晴の非脱粒性 に関与する遺伝子座が存在するかについて明 らかにすることを目的とした。